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Campo d'interesse:
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Instrumental1
Valtolina, R. e coautori
:
[ Tutti gli autori ]
Basso, S
Canestrari, R
Citterio, O
Mazzoleni, F
Pareschi, G
Spiga, D
Valtolina, R
Vernani, D
Documenti in archivio:
1
- Autore: Valtolina, R
1/1 pag.
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Totals
- ∑Authors OAB/Tot.: 12 / 22
- Percentage OAB_Authors: 54.55%
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- ∑I.F.: 0
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7. TECNICAL REPORTS
X-ray and topographic characterization of a W/Si graded
multilayer coated mirror shell (n.333) at PANTER facility
(april 2005)
Spiga, D. , Burkert, W., Hartner, G., Budau, B., Vernani, D., Canestrari, R. , Pareschi, G. , Citterio, O. , Basso, S. , Mazzoleni, F. , et al.
2005, INAF/OAB Internal Report 08/05
